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泰思肯VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡，采用全新的 Essence™ 電鏡操控軟件系統(tǒng)，將掃描形貌圖像與元素實(shí)時(shí)分析集成于同一個(gè)掃描窗口中。這種組合大大簡(jiǎn)化了樣品表面形貌的采集及含元素的數(shù)據(jù)分析工作，使得第四代 VEGA SEM 成為質(zhì)量控制、故障分析和研究實(shí)驗(yàn)室中常規(guī)材料等檢測(cè)提供更高效的分析的解決方案。
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